Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения TESCAN MIRA 3 LMU

Характеристики электронного микроскопа FEG SEM высокого разрешения. Катод Шоттки высокой яркости для получения изображений высокого разрешения, высокой контрастности, с низким уровнем шумов. Специальный In-Beam детектор в качестве опции для получения изображений высокого разрешения, особенно при низких ускоряющих напряжениях. Современная электронная оптика Уникальная конструкция электронно-оптической колонны с тремя линзами по технологии Wide Field Optics™ для работы

Лазерный анализатор размеров частиц ANALYSETTE 22 NanoTec plus

Модульная конструкция. Каждый прибор ANALYSETTE 22 состоит из компактного измерительного блока, который можно быстро и просто комбинировать с

Вакуумная установка нанесения многофункциональных нанокомпозитных покрытий QVADRA 500 (569)

Работа установки QUADRA 500 основана на методе квадрупольного магнетронного распыления. В отличие от дуальной схемы магнетроны квадрупольной системы равномерно разнесены вокруг карусельного устройства. Это обеспечивает в процессе нанесения покрытий существенно более высокую однородность плазмы по всей траектории движения изделий-подложек и практически исключает наличие «теневых» зон с низкой степенью ионизации и малой плотностью потока металлических атомов.

Прибор синхронного термического анализа STA 449 F1 Jupiter®

СТА (синхронный термический анализ) сочетает методы дифференциальной сканирующей калориметрии и термогравиметрии в одном измерении. С помощью СТА проводятся

Сервопневматическая система CRT-NU

Является развитием известной системы NAT, разработанной в Университете Ноттингема. Использование высокоточного сервопневматического клапана, специально разработанного актюатора с низким