Оборудование

Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения TESCAN MIRA 3 LMU

Оборудование

Характеристики электронного микроскопа

FEG SEM высокого разрешения
Катод Шоттки высокой яркости для получения изображений высокого разрешения, высокой контрастности, с низким уровнем шумов.
Специальный In-Beam детектор в качестве опции для получения изображений высокого разрешения, особенно при низких ускоряющих напряжениях.
Современная электронная оптика
Уникальная конструкция электронно-оптической колонны с тремя линзами по технологии Wide Field Optics™ для работы в различных режимах сканирования (Разрешение, Глубина резкости, Широкое поле обзора и т.д.).
Замена эффективной финальной апертуры осуществляется с помощью запатентованной TESCAN промежуточной электромагнитной линзы (IML).
Конструкция колонны микроскопа, выполненная без единого механически центрируемого элемента, позволяет полностью автоматизировать настройку и юстировку колонны.
Технология In-Flight Beam Tracing™ для контроля и оптимизации параметров пучка электронов в реальном времени с помощью Electron Optical Design
Уникальное «живое» стереоскопическое изображение, получаемое с помощью технологии 3D Beam, делает секреты микро- и нано-миров доступными для 3D-наблюдений и 3D-навигации.
Сканирование с высокой скоростью (вплоть до 20 нс/пиксель).
Аналитические возможности
Большая камера образцов с компуцентрическим столиком, моторизованным по 5-ти осям.
Детекторы сцинтилляторного типа на основе высокочувствительных YAG кристаллов незаменимы при сканировании с высокими скоростями.
11+ интерфейсных портов камеры с оптимальной геометрией для установки детекторов EDX, WDX, EBSD.
Интегрированная пневматическая (или, опционально, активная электромагнитная) подвеска для подавления влияния внешних вибраций.
Автоматизация исследований
Моторизованный столик образцов с быстрым перемещением и с точным воспроизведением координат удобен для различных процедур автоматизации исследований.
Совместимость со сторонним программным обеспечением и с продуктами других производителей по протоколу TCP/IP (что, например, позволяет автоматизировать EDX анализ).
Высокопроизводительная автоматизация исследований больших площадей поверхности образцов для, например, автоматического поиска и анализа частиц.
Усовершенствованное управление
Все процедуры настройки микроскопа автоматизированы, в том числе центрирование и настройка электронной оптики.
Прогрессивное программное обеспечение для управления микроскопом, накопления, обработки, анализа и архивирования изображений.
Многопользовательский интерфейс программного обеспечения, локализованный под несколько языков (в том числе под русский).
Три уровня доступа к управлению микроскопом, включая EasySEM уровень для начинающих пользователей.
Встроенная система сортировки изображений и создания отчетов.
Управление микроскопом по сети и встроенный удаленный доступ/диагностика в стандартном комплекте программного обеспечения.
Встроенная система самодиагностики.
Характеристики энергодисперсионного спектрометра:

— SDD детекторы X-Max с активной площадью кристалла 50 мм2

— Гарантированные характеристики разрешения по энергии не зависят от площади кристаллов

— Определение любых элементов от бериллия

— Моторизованный слайдер

— Высокая производительность и точность обеспечиваются при малых токах зонда — оптимальных для исследования наноструктур

— Не требуется жидкий азот для охлаждения

— Гарантирована стабильность позиции пика <1eV @Mn Ka и стабильность разрешения <1eV @Mn Ka при скорости счета до 100 000 имп/сек — Гарантированные характеристики по легким элементам (углерод, фтор) соответствующие стандарту ISO 15632:2002 — Надежный количественный анализ при скорости счета >100 000имп/сек

— Уникальный интерфейс Inca Energy делает микроанализ простым и удобным

— Модернизация (замена кристалла) для детекторов этого семейства может выполняться на месте установки

Количество испытаний прибора: 387

Календарь использования прибора:

< 2019 >
Август
«
»
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
Июль
Июль
Июль
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
Сентябрь

Рентгенофлуоресцентный спектрометр серии ARL 9900 WorkStation со встроенной системой дифракции

Оборудование

Серия рентгеновских спектрометров ARL9900 — самая универсальная серия приборов для контроля продукции производства, предлагаемых концерном Термо, пионером и лидером в рентгеновском анализе.

В одном приборе методом рентгеновской флуоресценции (XRF) можно определить элементный состав проб, и методом рентгеновской дифракции (XRD) — фазовый состав проб. ARL9900 может определять до 83 элементов (от B до U, №5 — №92 в периодической таблице) от уровня ррм до 100%. Современное встроенное программное обеспечение выдает результаты по ходу анализа.

Модульная конструкция и разнообразные опции дают возможность применения прибора для разнообразных задач в различных условиях производства.

Функциональные особенности.

Анализ элементов от Be до U
Анализ твердых и порошковых проб
Последовательный анализ на гониометрах SmartGonio и F55 (до 9 кристаллов-монохроматоров)
Одновременный анализ с использованием до 32 каналов
Компактная запатентованная дифракционная система XRD
Рентгеновская рабочая станция WorkStation с системой дифракции NeXRD
Серия приборов мощностью от 600 Вт до 4,2 кВт
Высокоэффективная трубка с Rh анодом и тонким торцевым Be окном (75 мкм). Для решения специальных задач предлагается рентгеновская трубка с Be окном толщиной 50 мкм
Программы бесстандартного анализа QuantAS , UniQuant®, OptiQuant
Область применения.

Полный элементный анализ металлов, руды, огнеупоров, стекла, геологических материалов
Полный фазовый анализ металлов, руд, геологических материалов, например: Фазы клинкера, фазы железа в процессах прямого восстановления железа, фазы электролиза в алюминиевой промышленности
Решение задач экологического контроля
Конструктивные особенности.

Технические решения в приборе ARL 9900 IntelliPower

Рентгеновская система

Выбор мощности от 600 Вт до 4200 Вт. Более высокая мощность выбирается для задач, в которых требуется высокая чувствительность и экспрессность анализа
Оптимизированная оптическая система, обеспечивающая точность измерений, высокую чувствительность и стабильность результатов анализа
Расположение рентгеновской трубки над пробой исключает возможность загрязнения трубки и прибора материалом пробы (плохо спрессованными таблетками)
Максимальная надежность и долговечность обеспечивается точной и прочной конструкцией спектрометра
Минимальное расстояние между анодом трубки и пробой повышает чувствительность и дает более низкие пределы обнаружения для всех элементов
В трубке использован родиевый анод для лучшего возбуждения всего спектра и минимального влияния на наиболее распространенные элементы
Стандартное окно толщиной 75мкм или специальное окно толщиной 50мкм, если требуется более высокая чувствительность к легким элементам (от бора до калия)
Анализ выполняется в вакуумной камере, закрытой одной крышкой. Минимизируется количество вакуумных уплотнений и сокращается риск течей
Постоянный контроль температуры и регулируемый вакуум гарантируют отличную долговременную и кратковременную стабильность
Генераторы

Выбор в зависимости от задачи

Спектрометры серии ARL 9900 могут комплектоваться полупроводниковыми высокочастотными генераторами различной мощности, в зависимости от аналитической задачи:

Генераторы мощностью 600 Вт или 2500 Вт не требуют внешнего контура охлаждения
Генератор мощностью 3600Вт подходит для большинства задач, где требуются низкие пределы обнаружения и высокие показатели. Максимальное выходное напряжение 60КВ (опция 70КВ), максимальный ток 120мА
Генератор мощностью 4200Вт предназначен исключительно для задач с особыми требованиями. Два варианта генераторов на выбор: стандартный 60КВ / 120мА или опция 70КВ / 140мА, этот генератор лучше всего подходит для анализа легких элементов (от В до Са) и тяжелых элементов коротковолнового диапазона
Ввод проб

Возможности автоматизации
Простая и надежная система быстрого ввода проб через 12-ти позиционный магазин
Большой Х-У магазин для автоматического ввода партий проб
Х-У магазин имеет 98 кодированных позиций для проб в кассетах или без кассет, на специальных подносах. Кодировка каждой позиции позволяет выполнять анализ без участия оператора, экономит время и помогает точно распознавать различные типы проб. Расширенный магазин может со временем легко заменить базовую систему в случае возросших аналитических запросов. Х-У магазин также может соединяться с конвейером транспортировки проб одинаковой формы (например, прессованные порошки в стальных кольцах). Такая простая автоматизация называется ARL SMS-XY.
Роботизированные системы SMS-2000 и SMS-3000 предлагают полную автоматизацию процессов подготовки и подачи проб разнообразной формы
Используя любую из этих опций, прибор может автоматически выполнять мониторинг процесса и генерировать аварийный сигнал при обнаружении любой аномалии. Система SMS-2000 — гибкая и мощная система, объединяющая процессы подготовки и анализа проб. С системой SMS-3000 используется большой робот, способный обслуживать одновременно оптический и рентгеновский спектрометры.
Полный микропроцессорный контроль

Основное внимание надежности и простоте в эксплуатации

Цифровая система управления упрощает процесс эксплуатации прибора и гарантирует воспроизводимость получаемых результатов.

Используется система микропроцессоров, микроконтроллеров и цифровых сигнальных процессоров, объединенная дуплексной связью. Система контролирует работу прибора, проверяя сотни параметров состояния каждые несколько секунд, и управляет работой гониометров, встроенной системы дифракции и функциями монохроматоров.

Команды оператора по выполнению анализа обрабатываются главным микропроцессором и пересылаются на нужный кластер. Окончательные результаты анализа выводятся на экран. Для удобства текущие операции могут отслеживаться на синоптической панели.

Фиксированные каналы

Высокоскоростной одновременный анализ элементов

Фиксированные каналы обеспечивают скорость анализа и высокую чувствительность, т.к. каждый канал настраивается на анализ одного элемента. В приборы серии ARL9900 можно устанавливать до 32 монохроматоров для одновременного анализа элементов, или до 24 монохроматоров в комбинации с гониометром.

Компактная геометрия «щель — кристалл» оптимизирует чувствительность и уровни спектрального фона для достижения самых низких пределов обнаружения. Новейшие детекторы обеспечивают линейность сигналов и высокую точность анализа. В одновременной конфигурации отпадает необходимость использовать газовые детекторы для всех элементов, начиная с натрия.

Каждый монохроматор имеет собственную систему контроля температуры (+/-0,10С), что является гарантией стабильности анализа. Для анализа легких элементов используются многослойные синтетические кристаллы. Дискриминация амплитуды импульсов, настройка высокого напряжения и коррекция мертвого времени выполняются программой.

Гониометры

Точный последовательный анализ

Гониометры программируются на анализ конкретных элементов (количественный анализ), или на сканирование рентгеновского спектра и обнаружение элементов, присутствующих в данной пробе (качественный анализ). В приборах серии ARL9900 предлагаются две модели высокоскоростных и высокоточных бесшестереночных гониометров для выполнения бесстандартного анализа.

Гониометр SmartGonio™ отличает модель ARL9900 от предыдущих моделей. Гониометр SmartGonio™ позволяет анализировать элементы от фтора до урана. Этот компактный гониометр с тремя кристаллами и двумя детекторами представляет собой гибкую и доступную систему регистрации. В один прибор можно установить до трех таких гониометров.

Универсальный гониометр F45 является альтернативным решением для тех случаев, когда необходимы до 9 кристаллов-монохроматоров для решения специфических задач. В прибор можно установить до двух универсальных гониометров.

Оба гониометра отличаются бесшестереночной конструкцией, высокой точностью благодаря скоростному и высокоточному позиционированию детектора и кристалла с помощью микропроцессоров, использующих технологию муаровых полос.

Важнейшие достоинства гониометра:

Быстрое позиционирование — угловая скорость вращения до 4800* 2 */мин, что в 5 раз быстрее традиционного гониометра, и до 20 раз быстрее сканера. Настройка соотношения углов кристалла и детектора */2 * автоматически выполняется микропроцессором, не требуется механических подстроек
Быстрый качественный анализ — постоянное цифровое сканирование формирует спектры со скоростью до 320*/мин. Пики автоматически идентифицируются
Отсутствие механического трения делает систему практически не изнашиваемой, обеспечивая превосходную угловую воспроизводимость (< + 0.0002*) и точность (0,001*)
Разделение двигательных функций позволяет помещать два детектора рядом друг с другом. Вторичные коллиматоры перед каждым детектором оптимизируют скорость счета и разрешение
Две технологии, интегрированные в одном приборе

Рентгеновская флуоресценция (XRF) и рентгеновская дифракция (XRD) в одном приборе.

Методом рентгеновской флуоресценции (XRF) определяется только элементный состав проб, а метод рентгеновской дифракции (XRD) позволяет получить информацию о минералогии материала. В типичном кристаллическом образце XRF определяет, например, общее содержание кальция (Ca) или железа (Fe). XRD выполняет анализ фазового состава таких кристаллических материалов, как скальные породы, минералы и оксиды. На одном и том же образце метод рентгеновской дифракции позволяет сделать шаг вперед и получить информацию о содержании CaO, CaCO3, Ca(OH)2 и других фаз кальция, или о содержании FeO, Fe2O3, Fe3O4, Fe3C и других фаз Fe. Комбинация результатов анализа методами XRF и XRD позволяет получить более полную информацию о данном кристаллическом образце.

Когда нужны оба вида анализа: элементный и структурный, приходится устанавливать два отдельных рентгеновских прибора, которые обходятся потребителю достаточно дорого.

Инновационная дифракционная система, установленная в прибор ARL 9900, позволяет комбинировать оба метода анализа в одном приборе со следующими преимуществами для пользователя:

Ввод только одного образца
Высокие аналитические характеристики благодаря построению единой системы калибровки для исследуемого материала
Один пользовательский интерфейс на оба метода
Результаты элементного и структурного анализа в одном аналитическом отчете
Минимум занимаемой площади
Компактная встроенная XRD система

Производительность, точность, патент

Компактная встроенная XRD система способна производить качественное сканирование и количественный анализ благодаря высокоточной системе позиционирования, использующей эффект муаровых полос. Точность позиционирования проб обеспечивается системой точного позиционирования и параллельной геометрией рентгеновского излучения. Отличная чувствительность и воспроизводимость результатов анализа таких чувствительных фаз, как свободная известь, достигается за счет вакуумной камеры и стабильной температуры аналитической емкости спектрометра.

Некоторые типичные и документированные области применения:

Свободная известь в клинкере и в шлаке
Фазы клинкера
Определение Fe2+ в агломератах
Фазы железа в процессах прямого восстановления железа
Фазы электролита в алюминиевой промышленности
Другие минералы и руды
Программное обеспечение

Простой и надежный анализ

Работа на приборе ARL 9900 и скоростная обработка информации с последующей выдачей аналитических результатов осуществляется через современное программное обеспечение OXSAS. OXSAS использует самую современную программную платформу, рассчитанную на удовлетворение запросов пользователей в течение всего срока службы оборудования. Она работает в среде Windows XP Professional/Windows 7.

Основные возможности программы:

Современная 32 битовая программа с новейшим графическим интерфейсом пользователя
Опробованная программа с множеством удобных функций
Простота в применении с возможностью скоростной обработки от простых до сложных комплексных задач
Использование шаблонов аналитических операций в программе OXSAS позволяет выполнять высококачественный экспресс анализ
Несопровождаемый пакетный анализ с поддержкой приоритетных проб
Встроенный Помощник аналитика для создания или расширения методов с наилучшим подбором аналитических параметров
Процесс калибровки с использованием экранного отображения множества аналитических кривых, мгновенным расчетом базовой кривой, и использованием шаблонов для редактирования и измерения калибровочных стандартов. Множественная регрессия для расчета калибровочных кривых, содержащая набор моделей коррекции и расчет теоретических альфа коэффициентов
Опции программных пакетов бесстандартного анализа: UniQuant, OptiQuant и программа полуколичественного анализа QuantAS предлагабт дополнительные возможности
Графический интерфейс для вывода на экран сканов
Разнообразные варианты вывода на экран результатов анализа, например, возможность отображения этапов расчетов для проверки метода
Многочисленные функции online обработки результатов в ручном или автоматическом режиме
Обработка результатов после завершения анализа, включая прямой экспорт в программу Excel (файлы *.xls)
Встроенная программа online статистического контроля (SPC)
Опция SCT менеджер выдает статус и историю установочных и контрольных проб, типовых стандартов, позволяет в любое время контролировать аналитические возможности прибора и каждого метода
Простота в работе: формирование пакета проб, требующих анализа, одним кликом мыши
Эффективные средства мониторинга и профилактики позволяют максимально использовать систему
Всеобъемлющая контекстная помощь Help с разделами «Что делать»
Встроенная в Microsoft SQL сервер 2005 реляционная база данных, хранящая ваши установочные и аналитические данные
Одновременный XRF и XRD анализ, и сведение результатов анализа в один отчет
Другие опции программы OXSAS:

SPC-Full: Встроенная online программа статистического контроля с полным графическим пакетом построения карты Шухарта
ARLcom: программный пакет передачи результатов в локальной сети и через последовательный порт
Локальная сеть: программа передачи результатов в компьютер с помощью протокола TCP/IP или в файлы
Последовательный порт: программа передачи результатов на компьютеры, принтеры или видеотерминалы через порт RS-232
Режим OEM: Подключение внешнего компьютера для автоматизации процесса
Связь с программой количественного XRD анализа Visual CRYSTAL , установленной в рабочей станции
Простота количественного анализа

Аналитические программы и калибровки определяются с помощью online программы Помощник Аналитика. Калибровочные кривые строятся с использованием программы множественной регрессии MVR.

Следующие модели коррекции служат для минимизации межэлементных влияний в многокомпонентных матрицах и улучшают качество анализа:

Коррекция наложений линий
Аддитивная коррекция интенсивности
Аддитивная коррекция концентрации
Мультипликативная коррекция интенсивности
Мультипликативная коррекция концентрации
Мультипликативная и аддитивная коррекция концентрации
Программа (COLA) для использования с программой фундаментальных параметров NBSGSC, которая может одновременно моделировать аналитические калибровки для гомогенных материалов. Рассчитываются поправки на межэлементные влияния (теоретические альфа коэффициенты), которые используются как известные коэффициенты во множественной регрессии. Программа сводит к минимуму количество стандартов, необходимых для проведения калибровки, и улучшает точность анализа.
Полный элементный анализ

Если установлен универсальный гониометр F45 (F55), с ним можно использовать по выбору один из пакетов бесстандартного анализа:

QuantAS™ — автоматически сканирует до 70 элементов от фтора до урана.

Бесстандартный анализ за три минуты.
Для проведения быстрого бесстандартного анализа неизвестных по составу проб автоматически осуществляются такие операции, как сглаживание, вычитание фона, идентификация пиков, матричная коррекция и коррекция наложений, расчеты концентраций и нормирование
UniQuant® — выполняет бесстандартный анализ с измерением отдельных пиков, в зависимости от количества определяемых элементов. Управление временем регистрации для элементов с низким содержанием и критичных по точности определения.

Бестандартный анализ до 79 элементов, для которых отсутствуют специальные стандартные образцы.

Идеально подходит для следующих случаев:

бесстандартный анализ твердых и порошковых материалов
малое количество пробы
проба неправильной формы
анализ покрытий
расчет баланса неизмеренных элементов, присутствующих в пробе, таких как органические и сверхлёгкие элементы
С гониометром SmartGonio™ используется программа OptiQuant™, версия программы UniQuant, адаптированная для этого гониометра

Бесстандартный анализ до 79 элементов.

Программные пакеты QuantAS и UniQuant® и OpiQuant устанавливаются на заводе-изготовителе. Они готовы к работе немедленно после монтажа прибора на предприятии заказчика. Включены установочные пробы для проведения коррекции дрейфа.

Количество испытаний прибора: 273

Календарь использования прибора:

< 2019 >
Август
«
»
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
Июль
Июль
Июль
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
Сентябрь

Лазерный анализатор размеров частиц ANALYSETTE 22 NanoTec plus

Оборудование

Модульная конструкция. Каждый прибор ANALYSETTE 22 состоит из

компактного измерительного блока, который можно быстро и просто

комбинировать с различными блоками диспергирования для измерения в сухой

или жидкой среде.

Практичная система быстрой смены. Для быстрого перехода от одного блока

диспергирования к другому достаточно просто вставить в измерительный блок

соответствующую кассету с измерительной ячейкой.

Малое время измерения. Продолжительность измерения прибора

ANALYSETTE 22 для большинства проб не превышает одной минуты.

Затем прибор сразу же готов к работе. Полностью автоматический анализ. С

наглядным отображением результатов на экране.

Возможность распечатать и сохранить свой индивидуально настроенный отчет.

Программное обеспечение прибора ANALYSETTE 22 включает в себя

готовые, предварительно сконфигурированные процедуры Standard Operating

Procedures (SOP) практически для всех распространенных задач измерения.

Эти процедуры SOP при помощи наглядного шаблона ввода данных можно

свободно и гибко настроить под свои потребности. Процесс и длительность

диспергирования, число измерений, временные интервалы и многие другие

параметры можно просто выбрать и сохранить как собственную процедуру

SOP.

− Измерение наночастиц в диапазоне измерения 0,01 – 2000 мкм

− Технология с использованием трех лазеров для прямого и обратного

рассеяния

− Особенно высокая точность измерения за счет анализа 165 каналов

− Быстрый, автоматический анализ размера частиц

− Модульная система

− Быстрая и простая очистка

Количество испытаний прибора: 0

Календарь использования прибора:

< 2019 >
Август
«
»
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
Июль
Июль
Июль
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
Сентябрь

ИК-спектрометр VERTEX 70

Оборудование

Оборудование серии VERTEX 70, отличающееся новейшей конструкцией, высокими техническими характеристиками и универсальными возможностями, предназначено для решения сложных аналитических и научно-исследовательских задач. Запись данных осуществляется двухканальным дельта-сигма АЦП c 24-битным динамическим диапазоном, встроенного в предусилитель детектора (DigiTect). Это предотвращает искажения сигнала внешними помехами и высокое соотношение сигнал/шум.

Вакуумная оптика

Вакуумный ИК-Фурье спектрометр VERTEX 70v с вакуумируемой оптической скамьей обеспечивает максимальную чувствительность в среднем, ближнем и дальнем ИК/ТГц диапазоне и устраняет влияние атмосферного углекислого газа и паров воды на качество получаемых спектров. Это позволяет добиться отличных результатов, например, в области исследований наноразмерных объектов, таких как сверхтонкие слои и пленки.

Система автоматизации установки параметров BRAIN

Набор специальных функций, таких как система автоматического распознавания приставок и оптических компонентов, автоматическая установка и проверка параметров измерения делает ИК-Фурье спектроскопию простым, быстрым и надежным методом. Постоянная Online диагностика компонент спектрометра значительно упрощает процедуру поиска неисправностей и техническое обслуживание прибора. Спектрометр комплектуется мощным пакетом программ, обеспечивающим максимальную функциональность системы.

VERTEX 70 оборудован дополнительными оптическими компонентами, способными обеспечивать работу в различных спектральных диапазонах от 15см-1 (10см-1 для VERTEX 70v) (дальний ИК/ТГц диапазон) вплоть до видимой/УФ области спектра при 28,000см-1. Не требующие настройки оптические компоненты и высокостабильный интерферометр RockSolid делают смену диапазона простой и доступной для пользователя.

Спектральный дапазон – от 370 до 7500 см-1.

Количество испытаний прибора: 70

Календарь использования прибора:

< 2019 >
Август
«
»
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
Июль
Июль
Июль
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
Сентябрь

Твердомер Nexus 4000 по Виккерсу, Кнупу, Бринеллю.

Оборудование

Твердомер класса Hi-end для автоматического измерения твердости по Виккерсу, Кнупу в диапазоне нагрузок от HV1 до HV50.

Рама повышенной жесткости.

Электронная нагрузочная ячейка последнего поколения с замкнутым циклом управления. Патентованная система обратной связи, обеспечивает быстрый результат испытаний с максимальной возможной точностью

Высокая воспроизводимость и повторяемость результатов испытаний

Замкнутый тип управления ячейкой позволяет производить все расчеты, фильтры и управления цифровыми данными в 32-х битном встроенном процессоре системы.

4-х позиционная полностью автоматизированная турель для измерений по Микро Виккерсу/ Макро Виккерсу, Бринеллю или Кнупу, которая может быть настроена с помощью различных инденторов, под задачи, этапы и системы анализа изображений. Турель может быть укомплектована объективами и инденторами в зависимости от предпочтений Заказчика.

NEXUS 4000 отвечает всем действующим стандартам EN, ISO и ASTM.

Диапазон нагрузок: 1 — 2 — 2.5 — 3 — 4 — 5 — 10 — 20 — 30 — 50 кгс

Инденторы: Виккерс, Кнуп и Бринелль (или 2 из них одновременно)

Объективы: встроенный электронный цифровой микроскоп с прецизионным датчиком, 15x увеличение. Дополнительные объективы устанавливаются на выбор Заказчика с увеличениями от 5x до 75x,от 10x до 150x, от 20x до 300x, от 40x до 600x, от 60х до 900х

Диапазон нагрузок:

1 — 2 — 2.5 — 3 — 4 — 5 — 10 — 20 — 30 – 50 кгс.

Выбор нагрузки:

через меню оператора.

Процедура испытаний:

полностью автоматическая.

Отображение результатов:

5 разрядов.

Скорость нагружения:

регулируемая, зависит от выбранной нагрузки.

4-х позиционная турель с поворотом на 360°, полностью автоматическая, функция запоминания стартовой позиции, возможность использования двух индукторов и двух объективов или 1 индентора и 3-х объективов.

Точность измерения:

<1% от нагрузки испытания.

Дисплей оператора:

измерение диагоналей, значение твердости, конвертация результатов в другие шкалы, прилагаемая нагрузка, онлайн статистика.

Разрешение отображения дисплея:

0.1 HV, HK и HB.

Преобразование результатов:

в Роквелл, Супер Роквелл, Бринелль, Лейб и т.д.

Соответствуют требованиям стандартов:

EN, ISO 6507, EN ISO 6506, EN ISO 4545, ASTM E-384, ASTM E-10-08, ASTM E-384.

Статистика:

всего испытаний, максимальная, минимальная, средняя нагрузки, диапазон, стандартное отклонение, все в реальном времени, после каждого теста.

Функции встроенной панели управления прибора:

старт/стоп испытания, интенсивность подсветки, время нагрузки, печать, дата, время, масштаб, настройки нагрузки, язык интерфейса.

Выход двусторонний:

RS-232.

Механизм нагружения:

полностью автоматический, система обратной связи, закрытого типа, автоматический обратный ход, нагружение, выдержка, разгружение.

Время нагружения:

по умолчанию 10 сек, настройка оператором в диапазоне от 0 до 60 сек.

Встроенный принтер, высокоскоростная тихая печать.

Электронный микроскоп:

яркий окуляр для подведения нитей с 15-кратным увеличением, с шагом 0.01 мкм.

Подсветка:

галоген 12 В, 30 Вт, зеленый фильтр, дроссели.

Оптическое измерение:

2 варианта: вручную через микроскоп или автоматически через видео / CCD / CMOS камеру.

Вертикальный просвет:

160 мм

Горизонтальный просвет:

135 мм от линии центра.

Размеры стола:

100х100, перемещение 20х20мм, точность позиционирования 0,001 мм.

Температура эксплуатации:

от 5°C до 40°C.

Влажность:

от 10% до 90% без конденсата.

Размеры и вес:

220х540х650 мм, 51 кг.

Подключение:

от 100 до 240 В, 50/60 Гц, одна фаза.

Мощность:

390 Вт.

Гарантия:

2 года.

Календарь использования прибора:

< 2019 >
Август
«
»
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
Июль
Июль
Июль
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
Сентябрь

Пикнометр АТС с автоматической регулировкой температуры Pycnomatic ATC

Оборудование,

Пикнометр Pycnomatic ATC — является максимально оснащенным прибором для измерения плотности твердых материалов. Работая по принципу вытеснения газа, данный пикнометр невероятно быстро и очень точно способен измерять фактическую (истинную) плотность твердых материалов и порошков.

Анализ плотности методом вытеснения газа является быстрым и надежным способом определения чистоты твердых материалов, позволяющим получать результаты с высокой точностью.

В качестве рабочего газа в пикнометре чаще всего используют гелий, молекулы которого имеют очень маленький размер и могут проникать даже в самые узкие поры твердых образцов, позволяя определять реальный объем, занимаемый образцом. Отношение массы сухого образца к объему, измеренному Пикнометром, дает истинную плотность материала. Высокая теплопроводность гелия и его поведение при комнатной температуре близкое к идеальному газу, делает данную технологию невероятно быстрой и надежной.

В случаях, когда не рекомендуется использовать гелий (например, при исследовании активированных углей), может быть использован другой инертный газ, такой как азот.

Особенности и преимущества пикнометра Pycnomatic ATC:

  • Мощный элемент Пельтье
  • Эффективная система стабилизации температуры
  • Снижение времени анализа
  • Нет необходимости в повторных калибровках
  • Измерение плотности при различных температурах
  • Непревзойденная воспроизводимость результатов анализа
  • Легкий выбор оптимальной конфигурации в соответствии с размером и природой образца
  • Неизменная точность анализа в широком диапазоне объемов
  • Прибор укомплектован всеми необходимыми модулями и не требует последующей модификации
  • Нет необходимости в постоянной перекалибровке при изменении внешней температуры

Календарь использования прибора

< 2019 >
Август
«
»
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
Июль
Июль
Июль
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
Сентябрь

Вакуумная установка нанесения многофункциональных нанокомпозитных покрытий QVADRA 500 (569)

Оборудование

Работа установки QUADRA 500 основана на методе квадрупольного магнетронного распыления. В отличие от дуальной схемы магнетроны квадрупольной системы равномерно разнесены вокруг карусельного устройства. Это обеспечивает в процессе нанесения покрытий существенно более высокую однородность плазмы по всей траектории движения изделий-подложек и практически исключает наличие «теневых» зон с низкой степенью ионизации и малой плотностью потока металлических атомов.

Потребляемая мощность:

— в режиме откачки, не более, 3 кВ;

— в режиме нанесения покрытий, не более, 30 кВт.

Расход водопроводной воды:

— в режиме откачки, не более, 0,4 м3/час;

— в режиме нанесения покрытий, не более, 1,2 м3/час.

Вакуумный откачной пост включает в себя:

— вакуумную камеру с размером камеры (диаметр/высота), 600/500 мм;

— турбомолекулярный насос фирмы ADIXEN;

— форвакуумный безмасленый насос фирмы ADIXEN;

— вакуумная запорная аппаратура с пневмоприводом фирмы SMC;

— компрессор с пневмораспределителями и системой подготовки сжатого воздуха фирмы SMC;

— cистема охлаждения вакуумного и технологического оборудования с системой блокировок по минимальным расходам по каждому устройству.

Время достижения в камере давления 3×10-3 Па с начала откачки не более 30 мин.

Натекание в камеру после откачки воздуха из камеры в течение 1 ч, замеренное при закрытом затворе, не более 0,2 нсм3/мин.

Квадрупольная распылительная система несбалансированых планарных магнетронов:

— размер мишеней, мм 380×80×6;

— размеры магнетронов, мм 440×105×60;

— количество магнетронов, шт. 4;

— возможность работы магнетронов в автономном, дуальном и квадрупольном режимах.

Система электропитания квадрупольной распылительной системы несбалансированных планарных магнетронов:

— выходная мощность, кВт 4×9;

— выходной ток по каждому магнетрону, А 0,5-15;

— режим электропитания магнетронов: импульсный с задаваемой частотой 0,1-40 кГц, стабилизацией параметров и системой дугогашения;

— возможность работы системы в автономном, дуальном и квадрупольном режимах.

Ионный источник:

— тип ионного источника — ионный источник с замкнутым дрейфом электронов;

— размер ионного пучка, мм 250×40

Блок питания ионного источника:

— выходная мощность, кВт 1;

— выходной ток, А 0,05-0,35;

— выходное напряжение, В 150-3000

Система напуска технологических газов на базе измерителей-регуляторов расхода:

— тип измерителей-регуляторов расхода: РРГ-10;

— количество независимых каналов 3;

— максимальное отклонение расхода газа, %, 1;

— ПИД регулирование потоков газа по датчику давления;

— максимальное отклонение давления в камере, %, не более 5.

Карусельное устройство

— планетарное вращение сателлитов — вокруг центральной оси карусели и вокруг своей оси;

— диаметр орбиты по осям сателлитов, мм 400

— количество сателлитов, не менее, шт. 26

— высота «эффективной» зоны, мм 200

Блок питания потенциала смещения.

— блок питания потенциала смещения импульсный с задаваемой частотой 0.1-40 кГц, оснащенный системой стабилизации параметров и системой дугогашения;

— потенциал смещения, подаваемый на карусель, В, 10 — 1200

— ток смещения при Uвых=1200В, не менее, А 3

— ток смещения при Uвых ≤ 150В, не менее, А 20

Стойка управления

Стойка с автоматизированной системой управления на базе промышленного программируемого контроллера фирмы «FASTWELL», включающего:

— контроллер с устройствами ввода-вывода и отображения информации;

— система управления и контроля верхнего уровня на основе персонального ПК со специализированным программным обеспечением;

— программное обеспечение контроллера.

Пакет технологических программ нанесения упрочняющих и функциональных покрытий:

Многофазные нанокомпозитные покрытия:

nc-TiN/nc-AlN, nc-TiAlN/a-Si3N4, nc-CrAlN/a-Si3N4, nc-Cr2О3/nc-Al2O3, nc-TiО2/nc-Al2O3

Количество испытаний прибора: 62

Календарь использования прибора:

< 2019 >
Август
«
»
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
Июль
Июль
Июль
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
Сентябрь

Прибор синхронного термического анализа STA 449 F1 Jupiter® фирмы NETZSCH (Германия)

Оборудование

СТА (синхронный термический анализ) сочетает методы дифференциальной сканирующей калориметрии и термогравиметрии в одном измерении. С помощью СТА проводятся измерения потоков теплоты и измерения массы при полностью идентичных условиях. Области применения STA 449 F1 Jupiter® – пластики, каучуки, резины, волокна, покрытия, масла, керамика, стекла, цемент, огнеупоры, металлы, топливо, лекарства, пищевые продукты и т.п.

Новый STA 449 F1 Jupiter
®

сочетает в себе непревзойденную гибкость и уникальные рабочие характеристики.
На данном приборе можно быстро и всесторонне проанализировать термостойкость образца, реакции разложения, состав, фазовые переходы, процессы плавления материалов
Легкая в использовании система вертикальной загрузки образцов, исключительно точное разрешение весов (разрешение 25 нг в диапазоне взвешивания 5г)
Взаимозаменяемые сенсоры для ДСК измерений с самой высокой чувствительностью и воспроизводимостью как для температур реакции/перехода и энтальпий, так и для теплоемкости.
Различные печи, легко взаимозаменяемые пользователем (дополнительное самоориентирующееся двойное спускоподъемное устройство для двух печей)
Съемные держатели образцов (ТГ, ТГ-ДСК, ТГ-ДТА, и.т.д.)
Автоматическое загрузочное устройство на 20 образцов
Функция Autovac: автоматическая откачка газа и автозаполнение газом
Множество различных принадлежностей, например, тигли различного размера, формы и выполенииые из различных метериалов
Уникальная возможность для СТА: температурно-модулированное ДСК (TM-ДСК)
Технические характеристики
Температурный диапазон: −150°C … 2400°C
Скорости нагрева и охлаждения: 0.001 K/мин … 50 K/мин (в зависимости от печи)
Высокоскоростная печь (комн … 1250°C)
Вольфрамовая печь (комн … 2400°C)
Диапазон взвешивания: 5000 мг
Разрешение ТГ: 0.025 мкг
Разрешение ДСК < 1 мкВт (в зависимости от сенсора)
Атмосферы: инертная, окисляющая, восстанавливающая, статическая, динамическая, вакуум
Встроенный контроллер управления потоком газов для двух газов продувки и одного защитного газа
Высокий вакуум до 10-4 мбар (10-2 Па)
c-DTA® для сигнала ДТА, вычисленного из ТГ измерения, идеален для температурной калибровки ТГ
Прободержатели TG-DSC, TG-DSC-cp и TG-DTA для одновременного проведения измерений
Программное обеспечение

Прибор STA 449 F1 Jupiter® работает под управлением программного обеспечения Proteus® под Windows® XP и Vista®. Программа Proteus® включает все необходимое для выполнения измерений и обработки полученных данных. Комбинация простых для понимания меню и автоматизированных подпрограмм позволяет проводить сложный анализ. Программное обеспечение Proteus® software лицензировано вместе с прибором и может быть инсталлировано на другие компьютерные системы.

Возможности дифференциального сканирующего калориметра:

Определение температуры начала, максимума, перегиба, конца пика теплового эффекта
Автоматический поиск пика
Энтальпии превращения: анализ площадей пиков (энтальпий) с возможностью выбора базовой линии, анализ парциальной площади пика и его ширины
определение теплового эффекта с учетом изменения массы
Комплексный анализ переходов стеклования/расстекловывания
Автоматическая коррекция базовой линии (TG, DSC, DTA)
Определение степени кристалличности
Определение индекса кислородной индукции
BeFlat® для автоматической коррекции базовой линии (опция)
Коррекция пика:
определение тепловых эффектов при учете постоянных времени системы и теплового сопротивления (опционально)
Определение удельной теплоемкости (опция).
Расширение ТМ-ДСК для температурно-модулированных ДСК измерений (опционально)
Возможности термогравиметрии:

Изменение массы в % или мг
*»Автоматическое определение стадий изменения массы
Определение остаточной массы
Определение температуры начала и конца изменения массы на ТГ-кривой
Температурный максимум 1-й и 2-й производной термогравиметрической кривой
Автоматическая коррекция базовой линии и выталкивающей силы
c-DTA® для расчетного сигнала ДТА с вычислением характеристических температур и площадей пиков

Количество испытаний прибора: 100

Календарь использования прибора:

< 2019 >
Август
«
»
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
Июль
Июль
Июль
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
Сентябрь

Рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA. Thermo Fisher Scientific.

Оборудование

Область применения.

Фундаментальны исследования: кристаллография, химия твердного тела, твердотельная кинетика….
Прикладные исследования: материаловедение, геология, авиация, исследования керамики…
Контроль технологических процессов: цементная отрасль, металлургия, керамическая промышленность

Функциональные особенности

Определение фазового состава пробы
Количественное определение известных фаз в смеси
Кристаллография, определение и уточнение структуры кристаллов
Проведение анализа в различных условиях: высокие и низкие температуры, высокое давление и/или активная газовая среда
Анализ поверхности и тонких пленок
Анализ текстуры и микронапряжений
Конструктивные особенности

Прибор ARL X’TRA сконструирован по принципу вертикальной — геометрии Брэгга — Брентано, обеспечивающей более удобную работу с пробами. Оптимальные параметры углового и энергетического разрешения без участия фильтров и монохроматоров достигаются благодаря уникальной технологии детекторов Пелтье. Данное решение увеличивает интенсивность дифракции и улучшает разрешение X’TRA, по сравнению с традиционными детекторами.

В зависимости от типа анализа или вида пробы, система легко реконфигурируется, используя такие специально подобранные принадлежности, как температурные камеры, опции формирования параллельного пучка, текстурный гониометр.

Оптимальный компромисс между интенсивностью и разрешением

Постоянная подстройка щелей дифрактометра ARL X’TRA позволяет оператору выбирать оптимальный баланс между интенсивностью и угловым разрешением. Возможность постоянной подстройки также позволяет оптимизировать установки щелей в зависимости от кристаллографии материалов.

Угловое разрешение < 0,04 легко измеряется в стандартной конфигурации, без специальных принадлежностей и при нормальной скорости сканирования (0,1 2.сек). Точный контроль радиальной и аксиальной коллимации пучка обеспечивается управляемыми микрометром щелями и сменными коллиматорными щелями.

Точная регулировка «нулевой плоскости»

Высота пробы в геометрии Брэгга — Брентано (стандартная) критична для точности получаемых данных и для достижения наилучшей интенсивности в конфигурации с параллельным пучком. Стандартный предметный столик дифрактометра ARL X’TRA оснащен микрометрической регулировкой высоты и положения.

В зависимости от формы и размера проб микрометрическая регулировка применяется для точной настройки высоты пробы до 10мк. Точная микрометрическая настройка также позволяет выполнять цифровое слежение за регулировкой положения.

Модульная конструкция столика

Модульная конструкция позволяет пользователям менять столики без длительной процедуры настройки. Стандартный столик имеет два механических штыря, точно ориентированных на поступательные и поворотные перемещения столика относительно гониометра. Полная реконфигурация дифрактометра выполняется за несколько минут.

Уникальный полупроводниковый Si (Li) детектор Пелтье

Последняя версия: кремний-литиевый детектор с холодильником Пелтье.

Детектор запаян в высоком вакууме пассивными геттерами для долговременного поддержания стабильного вакуума.

5-ти ступенчатая пирамида Пелтье позволяет охлаждать Si(Li) кристалл до −100 С и резко снижать внутренние шумы детектора до <0,1имп/сек.

Благодаря такому низкому уровню шумов детектора стал возможен количественный фазовый анализ в диапазоне 0,1 весового % (в зависимости от пробы). Полупроводниковый детектор позволяет электронную селекцию фотонов на основе их энергий и устраняет необходимость в бета-фильтрах и монохроматорах дифрагированного пучка для удаления нежелательной интенсивности рентгеновского излучения источника (например, биений, тормозного излучения и/или флуоресценции пробы. Флуоресценция сигналов Fe и Cu очень высока, и при анализе Fe порошка стандартный сцинтилляционный детектор регистрирует около 5000 имп/сек флуоресценции Fe.

Свой вклад в наиболее сильные пики дифракции также вносит К излучени. Это серьезная проблема традиционных детекторов, т.к. фильтр устраняющий К излучение, не разрешает флуоресценцию Fe. Избавиться от фоновой флуоресценции Fe можно только с помощью монохроматоров вторичного пучка, которые при этом значительно понижают общую интенсивность. Si(Li) детектор Пелтье без проблем удаляет эти интерференции.

Энергетическое разрешение можно также использовать для настройки длин волн и, следовательно, энергии. Для упрощения дифрактограммы и минимизации наложений пиков можно, например, строить картину в режиме К вместо К , при котором появляется характеристический дуплет К 1/2. Оптическая схема позволяет одновременно устанавливать в отрегулированные положения парафокусирующую щелевую оптику и тонкопленочную коллиматорную оптику. Детектор монтируется на кронштейн с двумя штырями для его перемещения от одной оптики к другой. Такая конструкция позволяет менять оптическую конфигурацию менее чем за 5 минут без переналадки прибора. Кроме того, данный полупроводниковый детектор обеспечивает превосходное качество дифрактограммы в режимах парафокусирующей оптики и оптики параллельного пучка. Параболические зеркала также не влияют на разрешение и качество дифрактограммы.

Количество испытаний прибора: 227

Календарь использования прибора:

< 2019 >
Август
«
»
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
Июль
Июль
Июль
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
Сентябрь

KRUSSDSA30, прибор для измерения краевого угла смачивания.

Оборудование

Система Крюс DSA-30 Система Multi-дозирования и обработки изображений используется для измерения краевого угла смачивания. DSA30 имеет модуль для изучения поверхностной реологии (ODM/EDM) висящей капли.

Поверхность, и оценка качества различных поверхностных обработок на пластине (химическая адгезия жидкостей). Падение жидкости на поверхность пластины (статический метод), вычисление свободной энергии поверхности (SFE) из пластин.

Модульная система обеспечивает широкий диапазон высокопроизводительных решений для изучения поверхности твердых тел. Прибор идеально подходит для QA тестирования материалов из размеров образцов средних при стандартных измерительных пропускных. Большой выбор основных компонентов и аксессуаров предлагает решение практически для любой измерительной задачи.

Программное обеспечение позволяет контролировать процесс измерения контактного угла (КУ), рассчитывать свободную энергию поверхности (СЭП) твердых тел, поверхностное и межфазное натяжение жидкостей по методу висящей капли.

DSA30 — модульная система, ее можно легко преобразовать под специфические задачи с помощью дополнительных элементов (опций). Особенностью приборов DSA30 является возможность проводить измерения при температурах от -60 до +400°С (опционально). Видеокамера DSA снимает изображение капли и передает ее на компьютер, далее программа производит расчет и анализ. Система имеет 3 базовые комплектации, отличающиеся установленной программой DSA1 (сбор данных и обработка) или DSA3 (управление, сбор и обработка), системой дозирования и осями.

Система DSA30 имеет столик, перемещаемый по осям координат либо вручную, либо автоматически. Оси, управляемые программой, позволяют полностью автоматизировать процесс измерения, в том числе построить энергетическую карту поверхности. Программа для построения карты поставляется в комплекте с автоматическими осями и программой DSA3.На основании DSA30 может устанавливаться система TVA для измерения краевого угла в углублениях на основе отраженного света.

Краевой угол
— диапазон
— разрешение

1 … 180°
± 0,1°

Межфазное натяжение (опция)
— диапазон
— разрешение

0,01 … 1000 мН/м
0,01 мН/м

Макс. размер образца

300 х ∞ х 50 мм

Рабочие температуры (опция)

-60 … +400°С

Габариты (Д х Ш х В)

660 х 240 х 610 мм

Вес

25 кг

Система дозирования*:

карусель(4 шприца)

Оси для столика*:

X, Y, Z
управление
программой

Программное обеспечение*:

DSA3

Методы измерения:
— метод лежащей капли (краевой угол)
— метод висящей капли (поверхностное натяжение)
— расчет свободной энергии поверхности (8 методов)
— метод отраженного света
— ODM/EDM-реология

+

+

+
опция
опция

Календарь использования прибора:

< 2019 >
Август
«
»
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
Июль
Июль
Июль
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
Сентябрь