Рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA. Thermo Fisher Scientific.

Область применения.

  • Фундаментальны исследования: кристаллография, химия твердного тела, твердотельная кинетика….
  • Прикладные исследования: материаловедение, геология, авиация, исследования керамики…
  • Контроль технологических процессов: цементная отрасль, металлургия, керамическая промышленность

Функциональные особенности

  • Определение фазового состава пробы
  • Количественное определение известных фаз в смеси
  • Кристаллография, определение и уточнение структуры кристаллов
  • Проведение анализа в различных условиях: высокие и низкие температуры, высокое давление и/или активная газовая среда
  • Анализ поверхности и тонких пленок
  • Анализ текстуры и микронапряжений

Конструктивные особенности

  • Прибор ARL X’TRA сконструирован по принципу вертикальной — геометрии Брэгга — Брентано, обеспечивающей более удобную работу с пробами. Оптимальные параметры углового и энергетического разрешения без участия фильтров и монохроматоров достигаются благодаря уникальной технологии детекторов Пелтье. Данное решение увеличивает интенсивность дифракции и улучшает разрешение X’TRA, по сравнению с традиционными детекторами.
  • В зависимости от типа анализа или вида пробы, система легко реконфигурируется, используя такие специально подобранные принадлежности, как температурные камеры, опции формирования параллельного пучка, текстурный гониометр.
  • Оптимальный компромисс между интенсивностью и разрешением
  • Постоянная подстройка щелей дифрактометра ARL X’TRA позволяет оператору выбирать оптимальный баланс между интенсивностью и угловым разрешением. Возможность постоянной подстройки также позволяет оптимизировать установки щелей в зависимости от кристаллографии материалов.
  • Угловое разрешение < 0,04 легко измеряется в стандартной конфигурации, без специальных принадлежностей и при нормальной скорости сканирования (0,1 2.сек). Точный контроль радиальной и аксиальной коллимации пучка обеспечивается управляемыми микрометром щелями и сменными коллиматорными щелями.
  • Точная регулировка «нулевой плоскости»
  • Высота пробы в геометрии Брэгга — Брентано (стандартная) критична для точности получаемых данных и для достижения наилучшей интенсивности в конфигурации с параллельным пучком. Стандартный предметный столик дифрактометра ARL X’TRA оснащен микрометрической регулировкой высоты и положения.
  • В зависимости от формы и размера проб микрометрическая регулировка применяется для точной настройки высоты пробы до 10мк. Точная микрометрическая настройка также позволяет выполнять цифровое слежение за регулировкой положения.
  • Модульная конструкция столика
  • Модульная конструкция позволяет пользователям менять столики без длительной процедуры настройки. Стандартный столик имеет два механических штыря, точно ориентированных на поступательные и поворотные перемещения столика относительно гониометра. Полная реконфигурация дифрактометра выполняется за несколько минут.
  • Уникальный полупроводниковый Si (Li) детектор Пелтье
  • Последняя версия: кремний-литиевый детектор с холодильником Пелтье.
  • Детектор запаян в высоком вакууме пассивными геттерами для долговременного поддержания стабильного вакуума.
  • 5-ти ступенчатая пирамида Пелтье позволяет охлаждать Si(Li) кристалл до −100 С и резко снижать внутренние шумы детектора до <0,1имп/сек.
  • Благодаря такому низкому уровню шумов детектора стал возможен количественный фазовый анализ в диапазоне 0,1 весового % (в зависимости от пробы). Полупроводниковый детектор позволяет электронную селекцию фотонов на основе их энергий и устраняет необходимость в бета-фильтрах и монохроматорах дифрагированного пучка для удаления нежелательной интенсивности рентгеновского излучения источника (например, биений, тормозного излучения и/или флуоресценции пробы. Флуоресценция сигналов Fe и Cu очень высока, и при анализе Fe порошка стандартный сцинтилляционный детектор регистрирует около 5000 имп/сек флуоресценции Fe.
  • Свой вклад в наиболее сильные пики дифракции также вносит К излучени. Это серьезная проблема традиционных детекторов, т.к. фильтр устраняющий К излучение, не разрешает флуоресценцию Fe. Избавиться от фоновой флуоресценции Fe можно только с помощью монохроматоров вторичного пучка, которые при этом значительно понижают общую интенсивность. Si(Li) детектор Пелтье без проблем удаляет эти интерференции.
  • Энергетическое разрешение можно также использовать для настройки длин волн и, следовательно, энергии. Для упрощения дифрактограммы и минимизации наложений пиков можно, например, строить картину в режиме К вместо К , при котором появляется характеристический дуплет К 1/2. Оптическая схема позволяет одновременно устанавливать в отрегулированные положения парафокусирующую щелевую оптику и тонкопленочную коллиматорную оптику. Детектор монтируется на кронштейн с двумя штырями для его перемещения от одной оптики к другой. Такая конструкция позволяет менять оптическую конфигурацию менее чем за 5 минут без переналадки прибора. Кроме того, данный полупроводниковый детектор обеспечивает превосходное качество дифрактограммы в режимах парафокусирующей оптики и оптики параллельного пучка. Параболические зеркала также не влияют на разрешение и качество дифрактограммы.

Календарь использования прибора:

  • 12
    12.Сентябрь.Четверг
    Нет событий