Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения TESCAN MIRA 3 LMU

Характеристики электронного микроскопа

FEG SEM высокого разрешения
Катод Шоттки высокой яркости для получения изображений высокого разрешения, высокой контрастности, с низким уровнем шумов.
Специальный In-Beam детектор в качестве опции для получения изображений высокого разрешения, особенно при низких ускоряющих напряжениях.
Современная электронная оптика
Уникальная конструкция электронно-оптической колонны с тремя линзами по технологии Wide Field Optics™ для работы в различных режимах сканирования (Разрешение, Глубина резкости, Широкое поле обзора и т.д.).
Замена эффективной финальной апертуры осуществляется с помощью запатентованной TESCAN промежуточной электромагнитной линзы (IML).
Конструкция колонны микроскопа, выполненная без единого механически центрируемого элемента, позволяет полностью автоматизировать настройку и юстировку колонны.
Технология In-Flight Beam Tracing™ для контроля и оптимизации параметров пучка электронов в реальном времени с помощью Electron Optical Design
Уникальное «живое» стереоскопическое изображение, получаемое с помощью технологии 3D Beam, делает секреты микро- и нано-миров доступными для 3D-наблюдений и 3D-навигации.
Сканирование с высокой скоростью (вплоть до 20 нс/пиксель).
Аналитические возможности
Большая камера образцов с компуцентрическим столиком, моторизованным по 5-ти осям.
Детекторы сцинтилляторного типа на основе высокочувствительных YAG кристаллов незаменимы при сканировании с высокими скоростями.
11+ интерфейсных портов камеры с оптимальной геометрией для установки детекторов EDX, WDX, EBSD.
Интегрированная пневматическая (или, опционально, активная электромагнитная) подвеска для подавления влияния внешних вибраций.
Автоматизация исследований
Моторизованный столик образцов с быстрым перемещением и с точным воспроизведением координат удобен для различных процедур автоматизации исследований.
Совместимость со сторонним программным обеспечением и с продуктами других производителей по протоколу TCP/IP (что, например, позволяет автоматизировать EDX анализ).
Высокопроизводительная автоматизация исследований больших площадей поверхности образцов для, например, автоматического поиска и анализа частиц.
Усовершенствованное управление
Все процедуры настройки микроскопа автоматизированы, в том числе центрирование и настройка электронной оптики.
Прогрессивное программное обеспечение для управления микроскопом, накопления, обработки, анализа и архивирования изображений.
Многопользовательский интерфейс программного обеспечения, локализованный под несколько языков (в том числе под русский).
Три уровня доступа к управлению микроскопом, включая EasySEM уровень для начинающих пользователей.
Встроенная система сортировки изображений и создания отчетов.
Управление микроскопом по сети и встроенный удаленный доступ/диагностика в стандартном комплекте программного обеспечения.
Встроенная система самодиагностики.
Характеристики энергодисперсионного спектрометра:

— SDD детекторы X-Max с активной площадью кристалла 50 мм2

— Гарантированные характеристики разрешения по энергии не зависят от площади кристаллов

— Определение любых элементов от бериллия

— Моторизованный слайдер

— Высокая производительность и точность обеспечиваются при малых токах зонда — оптимальных для исследования наноструктур

— Не требуется жидкий азот для охлаждения

— Гарантирована стабильность позиции пика <1eV @Mn Ka и стабильность разрешения <1eV @Mn Ka при скорости счета до 100 000 имп/сек — Гарантированные характеристики по легким элементам (углерод, фтор) соответствующие стандарту ISO 15632:2002 — Надежный количественный анализ при скорости счета >100 000имп/сек

— Уникальный интерфейс Inca Energy делает микроанализ простым и удобным

— Модернизация (замена кристалла) для детекторов этого семейства может выполняться на месте установки

Количество испытаний прибора: 387

Календарь использования прибора:

Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
1
2
  • ЦВТ
    Весь День
    02-05-2017

    Азотированные боры\БЦ1-4
    Азотированные боры\БИ1-1

  • ХТИ
    Весь День
    02-05-2017

    Полимерный композит\1
    Полимерный композит\2
    Полимерный композит\3
    Полимерный композит\4
    Полимерный композит\5
    Полимерный композит\6

3
  • ТСК
    Весь День
    03-05-2017

    Пеностеклокерамика

4
  • ТСК
    Весь День
    04-05-2017

    Кирпич
    Глина

  • ТПХ
    Весь День
    04-05-2017

    Полиэмид
    Полиэмид-Bi

5
  • СМИК
    Весь День
    05-05-2017

    1
    2
    3

  • МиТМ
    Весь День
    05-05-2017

    Для лекции

6
7
8
9
10
  • ТЦКМ
    Весь День
    10-05-2017

    1 КСм 7Сут
    2 3Кл 7Сут
    3 6Кл 7Сут
    I цем Кл-р исх + синт газ
    IV цем Кл-р исх

11
  • СМИК
    Весь День
    11-05-2017

    КВ-ПП 1-9
    КВ-ПП 1-11
    КВ-ПП 1-13
    ВТ-28
    НТ-28

12
  • ТЦКМ
    Весь День
    12-05-2017

    Клинкер\2C2S-CaF2 1350
    Клинкер\2C2S-CaF2 1400
    Клинкер\CaF2 1350
    Клинкер\CaF2 1400

13
14
15
  • ЦВТ
    Весь День
    15-05-2017

    Стекло\Бутылочное бурое
    Стекло\Бутылочное зелёное
    Стекло\Бутылочное коричневое
    Стекло\Листовое
    Стекло\Листовое бутылочное
    ANB2 28.04.17 s
    ANB2 28.04.17 g

16
  • СМИК
    Весь День
    16-05-2017

    4-28

  • ТСК
    Весь День
    16-05-2017

    Суспензия

17
  • ЦВТ
    Весь День
    17-05-2017

    БЦ1-2
    БЦ1-1
    ANB3 17.05.17 s

  • ТСК
    Весь День
    17-05-2017

    1
    2
    3

18
  • МиТМ
    Весь День
    18-05-2017

    ГПВ на перлите 7сут планет
    ГПВ на перлите 7сут шар
    ГПВ на перлите 1год планет
    ГПВ на перлите 1год шар
    ГПВ на перлите 3года планет
    ГПВ на перлите 3года шар

  • ПЭ
    Весь День
    18-05-2017

    ЭДСП 1.1
    ЭДСП 2

  • ТСК
    Весь День
    18-05-2017

    4
    5
    6
    7

19
  • ТЦКМ
    Весь День
    19-05-2017

    C4AF 1-1
    C4AF 2-1

20
21
22
  • ТЦКМ
    Весь День
    22-05-2017

    C4AF 1-3
    C4AF 1-2
    C4AF 3-1

23
  • ХТИ
    Весь День
    23-05-2017

    7
    11
    36

24
  • ЦВТ
    Весь День
    24-05-2017

    Стекло+T\Листовое бутылочное+T
    Стекло+T\Бутылочное зелёное+T
    Стекло+T\Листовое+T
    Стекло+T\Бутылочное коричневое+T
    Стекло+T\Бутылочное бурое+Т
    Метеорит

25
  • ТСК
    Весь День
    25-05-2017

    ЛС
    ЗТ
    Мон
    700
    900

26
  • ТЦКМ
    Весь День
    26-05-2017

    C2S 1-1
    C2S 2-1
    C2S 3-1

  • СМИК
    Весь День
    26-05-2017

    Состав 2
    Состав 12
    1
    2

27
28
29
  • ТСК
    Весь День
    29-05-2017

    Пеностеклокерамика-II

  • ТЦКМ
    Весь День
    29-05-2017

    Кварцит Вольск исх
    Кварцит Вольск обж
    Сланцы Пикалев исх
    Сланцы Пикалев обж
    Цемент Вольск

30
  • ТМ
    Весь День
    30-05-2017

    Большой кусок материала
    Маленький кусок материала
    Покрытие\Большие куски светлые
    Покрытие\Мелкие куски с пятнами
    Покрытие\Небольшие серые куски

31
  • СМИК
    Весь День
    31-05-2017

    Известково-глинистый камень\ИГК1
    Известково-глинистый камень\ИГК2

  • ТПХ
    Весь День
    31-05-2017

    АМ-50
    ГМ-50

Июнь
Июнь
Июнь
Июнь